尼得科精密檢測科技株式會社(以下簡稱“本公司”)將參展2025年5月6日(星期二)～5月8日(星期四)在德國紐倫堡市舉辦的“PCIM Expo & Conference 2025”。

在本次展會上,電力電子行業將匯聚一堂,旨在跨越國界共同探索更新的研發趨勢,整個行業共同分享創意,提供解決方案。

本公司在本次展會上將展示從芯片(Chip)級到系統級面向功率器件的先端檢測系統。此外,還將現場實際演示有助于縮短研發周期的HILS(Hardware-In-the-Loop Simulation)平臺。

今后,本公司將繼續以行業先端的測量和檢測技術為全球制造業做出貢獻。

〈參展概要〉

 ?展期:2025年5月6日(星期二)～5月8日(星期四)

 ?展館:德國紐倫堡市 NürnbergMesse展覽中心

 ?展位:4-432

〈參展內容〉

?用于IGBT/SiC功率模塊的絕緣/靜態特性/動態特性檢測裝置“NATS-1000/1700系列”

?SiC模塊可靠性測試裝置“NATS-8000系列”

?電機測試臺用逆變器&POWER HIL電機模擬器 “R-1100”

?運用AI技術的xEV建模模擬器 “E-Transport Simulator®”

?AC/DC電容測量用多功能測試儀“R-700系列”

?半導體器件穩定測量探針“TC-Probe”

?適用于高電壓的加壓結構探針卡 “Chamber head Probe Card”

?適用于高溫/高電流的探針 “3H+ Probe”